Компании: | 135 605 (+3) |
Товары и услуги: | 100 401 (+2) |
Статьи и публикации: | 15 249 (+1) |
Тендеры и вакансии: | 585 |
За последние два года эксперты компании ZEISS провели серию вебинаров, посвященных возможностям современных световых, электронных и атомно-силовых микроскопов. Записи всех вебинаров собраны на сайте ООО «Карл Цейсс». Здесь же можно задать возникшие вопросы специалистам, а с представленным в материалах оборудованием ознакомиться в каталоге компании ZEISS Russia & CIS.
«Автоматизация измерений»
Из видеоматериалов можно узнать, как автоматизация измерений поможет вашей работе, а также о том, как улучшит результаты цитологических исследований инструмент «Область Интереса», входящий в комплекс программного обеспечения ZEISS ZEN.
«Машинное обучение и анализ изображений»
Онлайн-лекция о том, как машинное обучение поможет быстро и качественно анализировать полученные изображения. Также в материале — рассказ обо всех преимуществах использования программного обеспечения ZEISS ZEN в решении научно-исследовательских и практических задач.
«Оптическая микроскопия в материаловедении»
Видеоматериал знакомит с возможностями современных оптических микроскопов ZEISS и наглядно демонстрирует, как именно оборудование помогает проводить исследования в сфере материаловедения и геологии.
«Двухлучевая электронная микроскопия в металловедении»
Вебинар о двухлучевой электронной микроскопии высокого разрешения на оборудовании ZEISS — о том, как она поможет в визуализации и изучении микроструктуры и свойств различных металлов и сплавов. В онлайн-лекции подробно рассмотрены преимущества методики фокусированного ионного пучка (FIB) и возможности использования аналитической приставки EBSD.
«Сканирующая электронная микроскопия в металловедении»
Из видеоматериала можно узнать, как сканирующие электронные микроскопы ZEISS помогают оптимизировать исследования в области гранулометрии, металлографии и фрактографии и при морфологическом анализе различных объектов.
«Атомно-силовые микроскопы Bruker»
Онлайн-лекция о новых возможностях, которые предоставляет оборудование компании Bruker для исследования поверхностей с высоким разрешением. В материале представлен подробный рассказ о разнообразии режимов атомно-силовых микроскопов производителя. В их число входят такие современные и высокоточные методики, как электрические измерения на наноуровне, спектроскопия пьезоэлектрического отклика и микроскопия микроволнового импеданса.
«Зонды Bruker для атомно-силовой микроскопии»
Вебинар поможет ознакомиться с преимуществами зондов Bruker и узнать, как выбрать оборудование, чтобы оно максимально подходило для вашей области исследований. Кроме того, в онлайн-лекции специалисты компании расскажут об особенностях использования зондов при проведении атомно-силовой микроскопии.
Контакты ООО «Карл Цейсс»:
- Телефон: + 7 (800) 200-05-67
- Сайт: https://zeiss-solutions.ru/